一、用途 双向对称微拉伸试验机配合光学显微镜和电子显微镜(如扫描电子显微镜SEM等),用于检测细观、微观的三维全场应变场,与XTMicro系统集成使用。 试验机主机和控制器 XTMicro显微数字图形相关法全场应变测量分析系统 二、特点 采用XTMicro数字图像相关法测量三维全场应变场 与光学显微镜、电子显微镜配合使用 采用双向对称微拉伸试验机,保证显微镜的视场中心始终在被测物的中心 试验机结构紧凑合理,外形美观大方; 试验机采用高性能伺服电机器加载,加载迅速、平稳、无级加载; 试验机控制方式:力、位移、变形闭环控制,平滑转换; 安全保护:试验机过流、过压、超温、软件部份的超载、超位移保护、机械强制安全限位保护等。 1. 最大负荷:2kN; 2. 试验速度范围:0.005—50mm/min无级调速; 3. 测量精度:0.5级(力值、变形、位移速度精度均为0.5级,即误差小于示值的±0.5%); 4. 拉伸试验空间:10-45mm; 5. 最小试件试验尺寸:10mm; 6. 拉伸行程的横向摆动<10微米; 7. 负荷分辨率:传感器满量程的35万分之一; 8. 在任何需要的时候,均可单键控制拉伸的停止和重新开始; 9. 有自动使夹具回复初始位置的按键; 10. 安全保证功能:超载保护、限位保护、电控系统过流、过压、过热超温保护; 11. 试验软件:全新Rgtest控制管理软件,可在Windows XP 系统下操作,具有强大的数据处功能; 12. 外型尺寸:260×200×80mm; 13. 电机功率:100W; 14. 主机重量:约10kg; 1. 2kN主机 一台 2. RG控制系统 一套 3. 2kN负荷传感器 一只(美国世铨) 4. 拉伸夹具 一套(需方提供试样) 5. 电机及伺服系统 一套 (日本松下) 6. Windows XP中文版专用试验软件 一套 7. 联想品牌计算机 一台(双核/2G/320G/DVD/XP系统/19”液晶) 8. HP A4彩喷打印机 一台 |